Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей: Учеб. пособие
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля. Для студентов, аспирантов и преподавателей технических вузов.
Автор | Батаев В.А. и др. |
Издательство | "ФЛИНТА" |
Дата издания | 2007 |
Кол-во страниц | 224 |
ISBN | 978-5-9765-0207-9 |
Тематика | Технические науки |
Вес книги | 0.315 кг |
Категории: Математика, физика, технические науки